SRM640g 硅粉标准品特性

SRM640g是美国国家标准与技术研究院（NIST）研制的超高纯硅粉标准参考物质，属640系列最l新批次，核心用途为X射线粉末衍射仪（XRD）校准，专为衍射线位置（2θ角）和线形（峰宽）的标准化提供量值基准，SRM640g 硅粉标准品广泛应用于材料科学、半导体、化工等领域的晶体结构分析与仪器性能验证。

该SRM640g 硅粉标准品单单位为7.5克，采用氩气封装装瓶防潮，原料源自德国Siltronic AG超高纯本征硅晶锭，经粉碎、喷射研磨至中值粒径4.1μm，再于1000℃氩气环境下退火2小时以消除晶格应力。核心认证值为22.5℃下晶格参数0.5431144nm±0.000008nm，量值溯源至国际单位制（SI），经XRD分析验证均匀性，相对晶格变化≤±4.8×10⁻⁸（95%置信区间）。

使用与储存需遵循规范：适配Bragg-Brentano几何衍射仪，可通过基本参数法和Pawley精修校准2θ角及衍射峰半高宽（FWHM）；未使用部分需密封于原瓶，保持氩气防护防潮，避免污染、损坏。其认证值在规定不确定度内无限期有效，无需定期重新认证，违规储存或使用会导致认证失效。

SRM640g 硅粉标准品无显著安全风险，核心防护重点为防止吸潮与污染。作为XRD校准领域的关键基准物质，它为检测结果的准确性与可比性提供保障，是科研及工业质量控制体系的重要支撑。

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