关键词搜索: PM2.5标准品,SRM1648a城市颗粒物,05/112低分子量肝素,细菌内毒素USP标准品

SRM640标准硅粉(美国NIST)

简要描述:SRM640f标准硅粉由超高纯度、本征硅晶锭制成,这些晶锭经粉碎和喷射研磨至平均粒径为 4.1 微米。然后将所得粉末在吸气氩气下在 1000 °C 下退火 2 小时 [1] 并在氩气下装瓶。

  • 英文名称:Silicon Powder(Line Position and Line Shape Standard for Powder Diffraction)
  • 产品型号:SRM640f
  • CAS:7440-21-3
  • 产品规格:7.5g
  • 纯度:0.5431144nm ± 0.000008nm
  • 品牌:美国NIST
  • 访  问  量:1045

产品介绍

SRM640标准硅粉(美国NIST)旨在用作校准通过粉末衍射测定的衍射线位置和线形的标准品。 SRM640标准硅粉由超高纯度、本征硅晶锭制成,这些晶锭经粉碎和喷射研磨至平均粒径为 4.1 微米。然后将所得粉末在吸气氩气下在 1000 °C 下退火 2 小时 [1] 并在氩气下装瓶。X 射线粉末衍射数据的分析表明,SRM640f 超高纯硅粉材料在衍射特性方面是均匀的。


认证值:22.5 °C 温度的认证晶格参数为 0.5431144nm ± 0.000008nm 。该值定义的区间及其扩展不确定度 (k = 2) 主要由从技术理解估计的 B 类不确定度决定测量数据及其分布。 NIST 认证值是 NIST 对其准确性有最高置信度的值,因为所有已知或可疑的偏差来源都已被调查或考虑在内。认证值和不确定度是根据 ISO/JCGM 指南 [2] 中描述的方法计算的。被测量是晶格参数。计量溯源性是长度的 SI 单位,以纳米表示。


信息值:对认证数据的分析包括对洛伦兹轮廓的半峰全宽 (FWHM) 进行细化,以解释样本引起的展宽。 FWHM 的角度依赖性随 1/cos θ 变化,被解释为尺寸引起的展宽。得到的值是一致的平均体积加权域大小约为 0.4 µm。变化为 tan θ 的术语,解释为微应变,细化为零。计算的峰位置的信息值在表 1 中给出。由激光散射确定的典型粒径分布在图 1 中给出。信息值被认为是 SRM 用户感兴趣的值,但没有足够的信息来评估与该值相关的不确定性。信息值不能用于建立计量溯源性。


360截图20220209175730076.jpg



SRM640标准硅粉(美国NIST)在氩气下装瓶以防潮。不使用时,将未使用的粉末部分密封保存在原瓶中,或以类似或更好的防潮保护的方式储存。


篇幅有限,如需了解更多SRM640标准硅粉(美国NIST)产品信息,请联系我们。