SRM 2820 洛氏硬度30N刻度-中档范围标准品(公称64 HR30N)

SRM 2820洛氏硬度30N刻度-中档范围（标准品）是一种转移标准，主要用于使用洛氏硬度 30N 标度 (HR30N) 校准和验证洛氏硬度设备的性能。

品牌：美国NIST

规格：1 block

SRM 2821 洛氏硬度30N刻度-高量程(公称79 HR30N)标准品

SRM 2821洛氏硬度30N刻度-高量程（标准品）是一种转移标准，主要用于使用洛氏硬度 30N 标度 (HR30N) 校准和验证洛氏硬度设备的性能。

品牌：美国NIST

规格：1 block

SRM 2828 钢的Knoop显微硬度标准品

SRM2828 钢的努氏显微硬度(标准品)旨在用作校准努氏型显微硬度计的主要标准，并通过 4.90 N (0.500 kgf) 载荷下的平均努氏硬度值认证。

品牌：美国NIST

规格：each

SRM 2830 陶瓷的Knoop硬度标准品

SRM2830 钢的努氏硬度(标准品)用于校准硬度测试仪。T被认证为平均对角线长度和平均硬度值。

品牌：美国NIST

规格：each

SRM 2831 陶瓷和硬质合金的维氏硬度标准品

SRM2831陶瓷和硬质合金的维氏硬度（标准品）旨在用于校准所有硬度和显微硬度试验机，通过该试验机进行维氏压痕，然后用显微镜进行测量。

品牌：美国NIST

规格：each

SRM 2841 半导体薄膜：Alx镓1-xAs外延层(Al摩尔分数)x (接近0.20)

SRM2841半导体薄膜：AlxGa1-xAs外延层（标准品）旨在用作测量薄膜成分的分析方法的参考标准，例如电子微探针分析 (EMPA)、光致发光 (PL)、俄歇电子能谱 (AES) 和 X 射线光电子能谱（XPS）。

品牌：美国NIST

规格：disk

SRM 2842 半导体薄膜：Alx镓1-xAs外延层(Al摩尔分数x接近0.30)标准品

SRM2842半导体薄膜：AlxGa1-xAs外延层（标准品） 旨在用作测量薄膜成分的分析方法的参考标准，例如电子微探针分析 (EMPA)、光致发光 (PL)、俄歇电子能谱 (AES) 和 X 射线光电子能谱（XPS）。

品牌：美国NIST

规格：disk

SRM 2855 聚乙烯中的添加剂元素标准品

SRM 2855聚乙烯中添加剂元素(标准品)用于校准或评估聚合物元素分析方法。

品牌：美国NIST

规格：3 Levels, 80 g each

SRM 2860 聚氯乙烯中的邻苯二甲酸酯标准品

SRM 2860 - 聚氯乙烯中的邻苯二甲酸盐主要用于验证测定聚氯乙烯 (PVC) 中六种邻苯二甲酸酯的方法。

品牌：美国NIST

规格：2 levels, 1 blank; 2 g